Description

TeraLyzerは透過配置のテラヘルツ時間領域分光計から材料パラメータを抽出することができる初のソフトウェア解決策です。エラーバーや推定サンプル厚を含む、サンプルの複雑な材料パラメータ(n, α, κ, ε', ε'')の非常に正確な情報を提供いたします。

TeraLyzerソフトウェアの利点の１つは、100 µm以下の薄いサンプルを差分測定セットアップを用いなくても測定できることです。さらに、多層システムの分析により新たな実験が可能になります。

TeraLyzerの無料版をお試しになりたい場合はご連絡ください。 

TeraLyzerソフトウェアには、数㎜から100 μm未満の厚さの薄いサンプルの調査を可能にする複数の手順が組み込まれています。最初のステップでは、送信テラヘルツ時間領域データがインポートされ、プリプロセッサによる評価のために準備されます。次にサンプルの厚さが抽出されます。最後に、光学パラメータ (n, α, κ, ε' と ε'’)とエラーバーが評価されます。

データ評価の後、α-ラクトースとポリプロピレン化合物の例で、以下に示すように複雑な光学パラメータが導き出されます。屈折率のスペクトル依存性は以下に示してあります:

吸収スペクトルは、明らかに共鳴特性を示しています:

サンプルの厚さは、ファブリ―ペロー反射を考慮した２つの最先端のアプローチのいずれかを使用して、評価されたデータから同時jに抽出されます: 準空間[1]および全変動[2]法。100 μm未満の範囲の薄いサンプルは、標準の実験セットアップで問題なく特徴づけることができます。以下に、28 μmのPA6フィルムの屈折率と導出された厚さを示します:

クライオスタット内など、サンプルに直接アクセスできない場合でも、正確な厚さ測定が可能です。さらに、TeraLyzerは多層サンプルの特性評価も可能です。[3]によると、ダイナミックレンジを考慮しているあめ、高吸収サンプルでも測定できます。

[1] M. Scheller, C. Jansen, and M. Koch, Optics Communications, Volume 282, Issue 7, 1 April 2009, Pages 1304-1306

[2] I. Pupeza, R. Wilk, and M. Koch, Optics Express, Volume 15, Issue 7, 2 April 2007, Pages 4335-4350

[3] P. U. Jepsen and B. M. Fischer, Opt. Lett. 30, 2005, Pages 29-31

Applications

• 品質検査
• テラヘルツ分光法